[发明专利]具消耗性金属基核心载体的半导体芯片制造组装方法无效
申请号: | 200810304557.9 | 申请日: | 2008-09-19 |
公开(公告)号: | CN101677069A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
发明(设计)人: | 林文强 | 申请(专利权)人: | 钰桥半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/60;H01L21/56 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 | 代理人: | 何 为 |
地址: | 中国台湾台北*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种具消耗性金属基核心载体的半导体芯片制造组装方法,该半导体芯片的组装是将一半导体芯片附着于一具金属基核心载体(Metal-Based Core Carrier)的多层增层载板(Multi-Layer Build-Up),当该金属基核心载体为半导体组装提供不可或缺的机械性支撑时,该增层载板(Build-Up Layers)各层板提供电路功能。最后,由于该金属基核心载体为消耗性对象,因此最终将会移除,而该增层载板则予以保留。 | ||
搜索关键词: | 消耗 金属 核心 载体 半导体 芯片 制造 组装 方法 | ||
【主权项】:
1.一种具消耗性金属基核心载体的半导体芯片制造组装方法,其特征在于:至少包含下列步骤:A、提供一多层增层载板;该多层增层载板包含一增层载板及一金属基核心载体,该增层载板包括一第一表面及一相对的第二表面,且该第一表面面对第一方向,由该第二表面接触该金属基核心载体,并在第一方向垂直延伸于该金属基核心载体之外,且该增层载板透过该金属基核心载体作电性连接;B、将一半导体芯片以机械方式附着于该多层增层载板上;该半导体芯片包含一第一表面及一相对的第二表面,且该半导体芯片的第一表面包含一电极;C、形成电子连接接合点,电性连接该增层载板与该半导体芯片的电极;D、构成封装结构,覆盖该半导体芯片及该增层载板;该封装结构包含一面对第一方向的第一表面、及一面对于相对该第一方向的第二方向的第二表面,且该封装结构在该第一方向垂直延伸于该半导体芯片、该增层载板及该金属基核心载体之外;以及E、蚀刻该金属基核心载体,从而形成该半导体芯片的组装。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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