[发明专利]具消耗性金属基核心载体的半导体芯片制造组装方法无效

专利信息
申请号: 200810304557.9 申请日: 2008-09-19
公开(公告)号: CN101677069A 公开(公告)日: 2010-03-24
发明(设计)人: 林文强 申请(专利权)人: 钰桥半导体股份有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/60;H01L21/56
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 代理人: 何 为
地址: 中国台湾台北*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种具消耗性金属基核心载体的半导体芯片制造组装方法,该半导体芯片的组装是将一半导体芯片附着于一具金属基核心载体(Metal-Based Core Carrier)的多层增层载板(Multi-Layer Build-Up),当该金属基核心载体为半导体组装提供不可或缺的机械性支撑时,该增层载板(Build-Up Layers)各层板提供电路功能。最后,由于该金属基核心载体为消耗性对象,因此最终将会移除,而该增层载板则予以保留。
搜索关键词: 消耗 金属 核心 载体 半导体 芯片 制造 组装 方法
【主权项】:
1.一种具消耗性金属基核心载体的半导体芯片制造组装方法,其特征在于:至少包含下列步骤:A、提供一多层增层载板;该多层增层载板包含一增层载板及一金属基核心载体,该增层载板包括一第一表面及一相对的第二表面,且该第一表面面对第一方向,由该第二表面接触该金属基核心载体,并在第一方向垂直延伸于该金属基核心载体之外,且该增层载板透过该金属基核心载体作电性连接;B、将一半导体芯片以机械方式附着于该多层增层载板上;该半导体芯片包含一第一表面及一相对的第二表面,且该半导体芯片的第一表面包含一电极;C、形成电子连接接合点,电性连接该增层载板与该半导体芯片的电极;D、构成封装结构,覆盖该半导体芯片及该增层载板;该封装结构包含一面对第一方向的第一表面、及一面对于相对该第一方向的第二方向的第二表面,且该封装结构在该第一方向垂直延伸于该半导体芯片、该增层载板及该金属基核心载体之外;以及E、蚀刻该金属基核心载体,从而形成该半导体芯片的组装。
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