[实用新型]探针结构及具有探针结构的测试板无效

专利信息
申请号: 200820137183.1 申请日: 2008-10-20
公开(公告)号: CN201281719Y 公开(公告)日: 2009-07-29
发明(设计)人: 陈文祺 申请(专利权)人: 陈文祺
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067;G01R1/02
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 许 静
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型提供一种探针结构,包含:一本体部及一探头部,该探头部为由该本体部的末端弯折延伸成型,该探头部的接触端面披覆有一辅助保护层,该辅助保护层为披覆于该探头部的接触端面,以给该探针结构提供较佳的保护功能,避免外来杂质吸附于该探针结构的接触端面,并进一步降低该探针结构的阻抗值,进而提高该探针结构感测电性信号的准确度。本实用新型还进一步提供一种具有探针结构的测试板。
搜索关键词: 探针 结构 具有 测试
【主权项】:
1、一种探针结构,其特征在于,包括:一本体部及一探头部,该探头部为由该本体部的末端弯折延伸成型,该探头部的接触端面披覆有一辅助保护层。
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