[发明专利]半导体存储器件及其控制方法有效
| 申请号： | 200880006654.8 | 申请日： | 2008-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN101622603A | 公开（公告）日： | 2010-01-06 |
| 发明（设计）人： | 菅野伸一;内川浩典 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 金 晓 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种半导体存储器件包括：多个检测码产生器，被配置为分别产生多个检测码以检测多个数据项中的错误；多个第一校正码产生器，被配置为分别产生多个第一校正码以校正多个第一数据块中的错误，第一数据块中的每一个包括数据项和相应的检测码之一；第二校正码产生器，被配置为产生第二校正码以校正第二数据块中的错误，第二数据块包括第一数据块；和半导体存储器，被配置为非易失性地存储第二数据块、第一校正码和第二校正码。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 存储 器件 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体存储器件，包括：多个检测码产生器，被配置为分别产生多个检测码以检测多个数据项中的错误；多个第一校正码产生器，被配置为分别产生多个第一校正码以校正多个第一数据块中的错误，所述第一数据块中的每一个包含数据项之一和相应的检测码；第二校正码产生器，被配置为产生第二校正码以校正在第二数据块中的错误，所述第二数据块包括所述第一数据块；和半导体存储器，被配置为非易失性地存储所述第二数据块、第一校正码和第二校正码。
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