[发明专利]红外辐射温度计的测定异常检测装置及其测定异常检测方法

摘要

对应用于热成像法的红外辐射温度计，能够检测该红外辐射温度计的计测异常，并推断计测异常原因，如对物透镜的污染及红外辐射温度计机构部故障等。本发明具有：模拟透镜(21)，在红外辐射温度计(10)的对物透镜(11)周围，以比对物透镜(11)更容易污染的位置及姿态被配置；激光位移计(22)，每隔规定时间或在规定时刻向摸拟透镜(21)投射光线，并接收由模拟透镜(21)反射的光，对该受光量进行测定；判断单元(50)，根据由激光位移计(22)测定的受光量计算投射光的衰减率，并根据算出的衰减率推断模拟透镜(21)的污染程度，根据模拟透镜(21)污染程度判断是否发出对物透镜污染的警告，并判断红外辐射温度计(10)的测定异常。

主权项

1、一种红外辐射温度计的测定异常检测装置，其特征在于，具有：模拟透镜，其以比对物透镜更容易污染的位置及姿态被配置在红外辐射温度计的所述对物透镜周围；受光量测定单元，其每隔规定时间或在规定的时刻向所述摸拟透镜投射光线，同时接收由所述模拟透镜反射的光，并对该受光量进行测定；判断单元，其根据由所述受光量测定单元测定的受光量计算出投射光的衰减率，并根据计算出的衰减率而推断所述模拟透镜的污染程度，再根据所述模拟透镜的污染程度来判断是否需要发出对物透镜污染的警告。