[发明专利]非接触式测量系统有效
| 申请号： | 200880101781.6 | 申请日： | 2008-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN101790690A | 公开（公告）日： | 2010-07-28 |
| 发明（设计）人： | T·赛尔德 | 申请（专利权）人： | 罗森伯格高频技术有限及两合公司 |
| 主分类号： | G01R31/304 | 分类号： | G01R31/304 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所 11277 | 代理人： | 刘新宇;陈立航 |
| 地址： | 德国弗*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及非接触式测量系统，该非接触式测量系统具有至少一个测试探针(28)，测试探针(28)形成用于对信号波导(26)上所传输的信号进行非接触式解耦的耦合结构部分，其中，信号波导(26)被配置为电路板(24)上的电路导体和电路部分(52)。为此，在电路板(24)上配置及布置了至少一个接触结构(18；44)，从而使得接触结构(18；44)与信号波导(26)电流地分离、形成耦合结构部分、完全位于信号波导(26)的近场内、并且具有能够与测试探针(28)的触点电接触的至少一个接触点(42)。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种非接触式测量系统，包括至少一个测试探针(28)，所述测试探针(28)形成用于对信号波导(26)上所传输的信号进行非接触式解耦的耦合结构部分，其中，所述信号波导(26)被配置为电路的电路板(24)上的导电线和电路(52)部分，所述非接触式测量系统的特征在于，在所述电路板(24)上配置及布置了至少一个接触结构(18；44)，从而使得所述接触结构(18；44)与所述信号波导(26)电流地分离，所述接触结构(18；44)形成所述耦合结构部分，所述接触结构(18；44)完全布置在所述信号波导(26)的近场内，并且所述接触结构(18；44)包括能够与所述测试探针(28)的触点电接触的至少一个接触点(42)。
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