[发明专利]使用串行受控的资源来测试器件的方法和装置无效
| 申请号： | 200880115433.4 | 申请日： | 2008-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN101855562A | 公开（公告）日： | 2010-10-06 |
| 发明（设计）人： | 托米·爱德华·贝里 | 申请（专利权）人： | 佛姆法克特股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3183 | 分类号： | G01R31/3183;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 描述了使用串行受控的资源来测试器件的方法和装置。本发明的例子涉及用于测试待测器件(DUT)的装置。在某些例子中，装置可以包括具有耦合至测试电路的串行输入的集成电路(IC)，该测试电路响应于串行输入上的测试控制信号而与DUT选择性地进行测试信号传送。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 串行 受控 资源 测试 器件 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于测试待测器件(DUT)的装置，包括：集成电路(IC)，具有耦合至测试电路的串行化输入，所述测试电路响应于所述串行化输入上的测试控制信号而与所述DUT选择性地进行测试信号传送。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佛姆法克特股份有限公司，未经佛姆法克特股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200880115433.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
