[发明专利]半导体装置和显示装置有效

专利信息
申请号: 200880117043.0 申请日: 2008-09-19
公开(公告)号: CN101878534A 公开(公告)日: 2010-11-03
发明(设计)人: 福岛康守;高藤裕;多田宪史 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/02;H01L21/336;H01L27/12
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种半导体装置和显示装置。该半导体装置(10)通过由剥离层剥离一部分而形成的包含CMOS晶体管(3)的半导体基板(1)与玻璃基板(2)相互贴合而构成。与NMOS晶体管(3n)的沟道区域(35n)同一导电型的P型、并且比沟道区域(35n)高浓度的p型高浓度杂质区域(39n),与沟道区域(35n)电连接而形成,以使得沟道区域(35n)的电位被固定。与PMOS晶体管(3p)的沟道区域(35p)同一导电型的N型、并且比沟道区域(35p)高浓度的N型高浓度杂质区域(39p),与沟道区域(35p)电连接而形成,以使得沟道区域(35p)的电位被固定。由此,提供一种通过抑制薄膜晶体管的特性变动能够实现高性能化的半导体装置和包括该半导体装置的显示装置。
搜索关键词: 半导体 装置 显示装置
【主权项】:
一种半导体装置,其由第一基板与第二基板相互贴合而构成,所述第一基板通过在剥离层剥离一部分而形成,且包含场效应型晶体管,所述半导体装置的特征在于:与所述第一基板的所述场效应型晶体管的沟道区域为同一导电型、并且比该沟道区域高浓度的高浓度杂质区域,与该沟道区域电连接而形成,以使得该沟道区域的电位被固定。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社,未经夏普株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200880117043.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top