[发明专利]质量分析数据解析方法以及质量分析数据解析装置有效
申请号: | 200880129663.6 | 申请日: | 2008-06-04 |
公开(公告)号: | CN102057271A | 公开(公告)日: | 2011-05-11 |
发明(设计)人: | 野田阳;梅村佳克 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供一种对出现来自目标化合物的多价离子峰的质谱进行解析处理并算出目标化合物的质量的方法和装置。首先,解析质谱上的各峰来检测同位素簇,求出各同位素簇的价数和代表点(m/z值)(S1~S3)。由于在离子化时加合到化合物上或者从化合物上脱离的成分的m/z值的范围受到限制,因此利用该情况来推定来自相同化合物的同位素簇,根据其组合来推定加合/脱离成分的m/z值的候选(S5)。对于所举出的多个候选,利用m/z值的分散程度、各同位素簇的代表点的相对强度的相似性等多个条件,排除明显异常的候选(S6~S9)。并且,最终选定m/z值的分散最小的候选或者代表点的相对强度的相似性最高的候选来决定加合/脱离成分的m/z值,然后计算化合物的质量(S10~S16)。 | ||
搜索关键词: | 质量 分析 数据 解析 方法 以及 装置 | ||
【主权项】:
一种质量分析数据解析方法,其特征在于,其对通过质量分析获取的、出现多价离子的峰的质谱数据进行解析处理,由此求出目标化合物的m/z值,该质量分析数据解析方法具有以下步骤:a)价数推定步骤,检测质谱上的同位素簇,推定各同位素簇的价数;b)代表点决定步骤,对于每个检测出的所述同位素簇,求出代表该同位素簇的m/z值;c)候选提取步骤,根据推定为来自相同的目标化合物的两个以上的同位素簇的代表点以及价数的组合,求出在离子化时加合到目标化合物上或者从目标化合物上脱离的成分的候选m/z值;d)加合/脱离成分选定步骤,对于通过多个同位素簇的不同组合得到的多个所述候选m/z值,对该候选m/z值或者作为其计算基础的同位素簇的组合的确实性进行评价,由此最终选定一个候选m/z值;以及e)化合物推定步骤,根据所选定的加合/脱离成分的m/z值和价数来推定目标化合物的m/z值。
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