[发明专利]一种高电压电流金属氧化物半导体电路结构无效
申请号: | 200910006817.9 | 申请日: | 2009-02-27 |
公开(公告)号: | CN101819973A | 公开(公告)日: | 2010-09-01 |
发明(设计)人: | 范秉尧;谢明易;廖作祥;陈茂华 | 申请(专利权)人: | 宏海微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/088 | 分类号: | H01L27/088;H01L23/52;H01L29/02;H01L29/78 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种应用于实现高电压高电流金属氧化物半导体电路结构,包括:一深-N井、一位于NWD之内的P井、多个位于NWD与PW之内的n+掺杂区以及p+掺杂区、多个场效氧化区、一连接至一该掺杂区的基体、一连接至一掺杂区的源极、一连接至一掺杂区的漏极、及一位于源极与漏极之间的栅极,其中,半导体结构的上视图中的所有区域,包括该NWD、PW、FOX、n+掺杂区与p+掺杂区,不限定于任何特定形状,但呈现相互包围环绕的向外辐射的状态,且与基体连接的掺杂区为与源极连接的掺杂区所环绕,再依序由内向外分别被,与该栅极连接的掺杂区、FOX区、与漏极连接的掺杂区所包围,因此上视图呈现一环环围绕的重叠区域,并且使得电流能从源极以向外辐射方式流向漏极。 | ||
搜索关键词: | 一种 电压 电流 金属 氧化物 半导体 电路 结构 | ||
【主权项】:
一种高电压高电流金属氧化物半导体电路结构,包括:一深-N井;一P井位于该深-N井之内;多个掺杂区,位于该深-N井与该P井之内,还包括,n+掺杂区以及P+掺杂区;多个场效氧化区;一基体,连接至一该掺杂区;一源极,连接至一该掺杂区;一漏极,连接至一该掺杂区;及一栅极,位于该源极与该漏极之间;其中,该半导体结构的上视图中的所有区域,包括该深-N井、该P井、该场效氧化区、该n+掺杂区与该p+掺杂区,不限定于任何特定形状,但呈现相互包围环绕的向外辐射的状态,且与该基体连接的该掺杂区是为与该源极连接的该掺杂区所环绕,再依序由内向外分别被,与该栅极连接的该掺杂区、该场效氧化区、与该漏极连接的该掺杂区所包围,因此上视图呈现一环环围绕的重叠区域,并且使得电流能从源极以向外辐射方式流向漏极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的