[发明专利]一种高电压电流金属氧化物半导体电路结构无效

专利信息
申请号: 200910006817.9 申请日: 2009-02-27
公开(公告)号: CN101819973A 公开(公告)日: 2010-09-01
发明(设计)人: 范秉尧;谢明易;廖作祥;陈茂华 申请(专利权)人: 宏海微电子股份有限公司
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088;H01L23/52;H01L29/02;H01L29/78
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种应用于实现高电压高电流金属氧化物半导体电路结构,包括:一深-N井、一位于NWD之内的P井、多个位于NWD与PW之内的n+掺杂区以及p+掺杂区、多个场效氧化区、一连接至一该掺杂区的基体、一连接至一掺杂区的源极、一连接至一掺杂区的漏极、及一位于源极与漏极之间的栅极,其中,半导体结构的上视图中的所有区域,包括该NWD、PW、FOX、n+掺杂区与p+掺杂区,不限定于任何特定形状,但呈现相互包围环绕的向外辐射的状态,且与基体连接的掺杂区为与源极连接的掺杂区所环绕,再依序由内向外分别被,与该栅极连接的掺杂区、FOX区、与漏极连接的掺杂区所包围,因此上视图呈现一环环围绕的重叠区域,并且使得电流能从源极以向外辐射方式流向漏极。
搜索关键词: 一种 电压 电流 金属 氧化物 半导体 电路 结构
【主权项】:
一种高电压高电流金属氧化物半导体电路结构,包括:一深-N井;一P井位于该深-N井之内;多个掺杂区,位于该深-N井与该P井之内,还包括,n+掺杂区以及P+掺杂区;多个场效氧化区;一基体,连接至一该掺杂区;一源极,连接至一该掺杂区;一漏极,连接至一该掺杂区;及一栅极,位于该源极与该漏极之间;其中,该半导体结构的上视图中的所有区域,包括该深-N井、该P井、该场效氧化区、该n+掺杂区与该p+掺杂区,不限定于任何特定形状,但呈现相互包围环绕的向外辐射的状态,且与该基体连接的该掺杂区是为与该源极连接的该掺杂区所环绕,再依序由内向外分别被,与该栅极连接的该掺杂区、该场效氧化区、与该漏极连接的该掺杂区所包围,因此上视图呈现一环环围绕的重叠区域,并且使得电流能从源极以向外辐射方式流向漏极。
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