[发明专利]羟基化学键取向红外光谱测角仪及其测量方法

摘要

本发明涉及一种羟基化学键取向红外光谱测角仪及其测量方法，该仪器包括基体，基体上端设置有刻度盘，基体后端设置有透光狭缝，透光狭缝两端设置有调整板，调整板上设置有微调螺栓，基体前端设置有载样器，载样器上设置有观察窗口，刻度盘上设置有指针，基体下端设置有调节钮，载样器上下设置有转轴，载样器通过所述转轴连接所述指针和调节钮。利用该仪器进行测量的方法为：选取载样薄片置于测角仪的载样器中；将测角仪夹持在红外光谱仪的样品架上；用微调螺栓调整透光狭缝大小；调节钮调整载样器顺时针转动；由红外光谱仪记录其羟基部分吸收的强度变化曲线。本发明能够直观得到与复杂的量子化学计算结果相近的数据，并且体积小，结构简单。

主权项

1、一种羟基化学键取向红外光谱测角仪，其特征在于包括空心的基体，所述基体上端设置有水平的有角度读数的刻度盘，所述基体后端设置有用于红外光穿过的透光狭缝，所述透光狭缝两端设置有调整板，所述调整板上设置有用于调节所述透光狭缝大小的微调螺栓，所述基体前端设置有载样器，所述载样器上设置有用于透过红外光并且与所述透光狭缝平齐的观察窗口，所述刻度盘上设置有指针，所述基体下端设置有用于调节所述载样器旋转角度的调节钮，所述载样器上下设置有用于所述载样器旋转的转轴，所述载样器通过所述转轴连接所述指针，所述载样器通过所述转轴连接所述调节钮。