[发明专利]基板测试电路及基板有效

专利信息
申请号: 200910079296.X 申请日: 2009-03-06
公开(公告)号: CN101825782A 公开(公告)日: 2010-09-08
发明(设计)人: 陈宇鹏;刘华;高浩然;卢昱 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G01R31/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 100176 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种基板测试电路及基板,本发明通过将第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到第一面板的引线长度设置为相等,使得第一数据线测试线的两个测试输入端到第一面板的输入电阻相等,从而使得对第一面板的数据线进行检测时,从两个测试输入端输入的测试信号在传输过程中电压衰减相同,实际加载于第一面板上的测试信号相同,进而在采用第一数据线测试线的两个测试输入端的任一个测试输入端对第一面板的数据线进行电性不良的检测时,具有相同的检出能力,同理对第一面板的栅线、公共电极线进行电性不良的检测时,也具有相同的检出能力。
搜索关键词: 测试 电路
【主权项】:
一种基板测试电路,其特征在于,包括:与单个曝光单元内的第一面板连接的第一数据线测试线、第一栅线测试线和第一公共电极线测试线,所述第一数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端,所述第一栅线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端,所述第一公共电极线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一公共电极线测试输入端和第二公共电极线测试输入端,所述第一数据线测试输入端、第一栅线测试输入端和第一公共电极线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧,所述第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到所述第一面板的引线长度相等;所述第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端到所述第一面板的引线长度相等;所述第一公共电极线测试输入端和第二公共电极线测试输入端到所述第一面板的引线长度相等。
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