[发明专利]一种提高扫描链测试覆盖率的方法和装置有效
| 申请号： | 200910080959.X | 申请日： | 2009-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN101515479A | 公开（公告）日： | 2009-08-26 |
| 发明（设计）人： | 张浩 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/14 | 分类号： | G11C29/14 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 顾惠忠 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种提高扫描链测试覆盖率的方法和装置，其中，提高扫描链测试覆盖率的方法包括：连接扫描模式下被置为零的存储器内建自测试控制信号的输入端到扫描链中的某一寄存器上；输入测试向量生成工具产生的扫描测试向量给包括所述某一寄存器的扫描链，测试组合逻辑；比较所述组合逻辑的测试响应和逻辑期望值。采用本发明提供的一种提高扫描链测试覆盖率的方法，使得存储器内建自测试控制信号在扫描链测试时可以控制，实现了存储器内建自测试逻辑在扫描模式下的可测试性，从而提高了扫描链测试的逻辑测试覆盖率，进而提高了芯片的整体测试覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 扫描 测试 覆盖率 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种提高扫描链测试覆盖率的方法，所述扫描链由多个寄存器串接而成，其特征在于，包括：连接扫描模式下被置为零的存储器内建自测试控制信号的输入端到扫描链中的某一寄存器上；输入测试向量生成工具产生的扫描测试向量给包括所述某一寄存器的扫描链，测试组合逻辑；比较所述组合逻辑的测试响应和逻辑期望值。
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