[发明专利]一种射频测试装置及方法无效

专利信息
申请号: 200910081411.7 申请日: 2009-04-03
公开(公告)号: CN101854644A 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 李莉莉;张玉凤;秦岩 申请(专利权)人: 工业和信息化部电信传输研究所
主分类号: H04W24/00 分类号: H04W24/00;H04B17/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 任默闻
地址: 100045 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及通信测试领域,为了解决现有技术中需要为每次测试布置特殊的测试环境和仪器,操作复杂、成本高的问题提供了一种射频测试装置及方法,其中装置包括复数个开关阵列:用于根据射频测试指令,导通测试单元;所述测试单元:用于对待测设备进行测试。本发明的实施例的有益效果在于,通过开关阵列可以灵活的配置测试项目,实现了多个功能模块的复用,节约了成本,并且降低了每次测试时需要重新布线等操作的难度。
搜索关键词: 一种 射频 测试 装置 方法
【主权项】:
一种射频测试装置,其特征在于该装置包括:复数个开关阵列:用于根据射频测试指令,导通测试单元;所述测试单元:用于对待测设备进行测试。
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