[发明专利]真空感应熔炼去除硅中磷杂质的方法无效

专利信息
申请号: 200910112398.7 申请日: 2009-08-19
公开(公告)号: CN101628719A 公开(公告)日: 2010-01-20
发明(设计)人: 罗学涛;郑淞生;蔡靖;陈文辉;李锦堂;陈朝 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: C01B33/037 分类号: C01B33/037
代理公司: 厦门南强之路专利事务所 代理人: 马应森
地址: 361005福*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 真空感应熔炼去除硅中磷杂质的方法,涉及一种硅提纯方法。提供一种真空感应熔炼去除硅中磷杂质的方法。将多晶硅放入坩埚中,抽真空,预热后关闭粗抽阀,开启扩散泵阀门抽真空,接通中频感应加热电源,坩埚开始感应生热,对坩埚内的硅原料进行低温预热,当温度上升到600℃时,硅自身感应生热;增加中频加热功率为50~200kW,当温度达到1415℃以上时,硅开始熔化;熔化后,调节中频加热功率,使硅液温度控制在1550~1850℃;待温度稳定后,将真空度控制在1.2×10-2~1.0×10-1Pa;开始计时,保温时间为45~120min;在水冷铜盘中通入循环水,然后将熔炼完成的硅液浇注入模具中,快速凝固,即完成。
搜索关键词: 真空 感应 熔炼 去除 硅中磷 杂质 方法
【主权项】:
1.真空感应熔炼去除硅中磷杂质的方法,其特征在于包括以下步骤:1)将多晶硅放入石墨坩埚中,关闭真空室,打开机械旋片泵进行抽真空,开启油扩散泵的电源进行预热;2)预热完成后关闭粗抽阀,开启扩散泵阀门抽真空,同时接通中频感应加热电源,感应线圈内通以交流电,石墨坩埚开始感应生热,对坩埚内的硅原料进行低温预热,当温度上升到600℃时,由于硅的电阻率急剧下降,导电性增强,硅自身感应生热;3)增加中频加热功率为50~200kW,当温度达到1415℃以上时,硅开始熔化;4)待硅完全熔化后,调节中频加热功率,使硅液温度控制在1550~1850℃;5)待温度稳定后,将真空度控制在1.2×10-2~1.0×10-1Pa;6)开始计时,保温时间为45~120min;7)在水冷铜盘中通入循环水,然后将熔炼完成的硅液浇注入模具中,进行快速凝固,即完成去除硅中磷杂质。
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