[发明专利]多栅型场效应晶体管及其制造方法无效
申请号: | 200910128788.3 | 申请日: | 2009-03-19 |
公开(公告)号: | CN101546710A | 公开(公告)日: | 2009-09-30 |
发明(设计)人: | 中林幸雄;内田建 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/28;H01L29/78;H01L29/423 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王永刚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种多栅型场效应晶体管及其制造方法,即使进行平坦化工序也可以防止金属污染。该多栅型场效应晶体管包括:在衬底上并列地设置的第一导电类型的多个半导体层;在多个半导体层的每一个上分离地设置的第二导电类型的源/漏区;在多个半导体层的每一个上,在源区和漏区之间设置的沟道区;在沟道区的每一个的上表面上设置的保护膜;在沟道区的每一个的两侧面上设置的栅绝缘膜;在沟道区的每一个的两侧面上夹着栅绝缘膜设置并且在沟道区的每一个的上表面上夹着保护膜设置的、包含金属元素的多个栅电极;以覆盖多个栅电极的每一个的侧面的方式在衬底上设置的层间绝缘膜;把多个栅电极的每一个的上表面共同连接的连接部;以及与连接部连接的栅布线。 | ||
搜索关键词: | 多栅型 场效应 晶体管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1. 一种多栅型场效应晶体管的制造方法,其特征在于包括:在衬底上并列形成多个半导体层的工序;在上述多个半导体层的上表面上分别形成保护膜的工序;在上述多个半导体层的每一个上形成覆盖各半导体层的两侧面、上述保护膜的两侧面和上表面的第一绝缘层的工序;在整个表面上形成第一层间绝缘膜,通过对上述第一层间绝缘膜进行平坦化而使上述第一绝缘层的各上表面露出的工序;通过分别选择性地除去上述第一绝缘层,在除去了上述第一绝缘层的位置形成多个孔穴的工序;在多个上述孔穴内的上述半导体层的两侧面形成栅绝缘膜的工序;在整个表面上堆积第一多晶硅膜以填埋多个上述孔穴的工序;通过对上述第一多晶硅膜进行平坦化而使上述第一层间绝缘膜的上表面露出,并且把上述第一多晶硅膜分离成多个第二多晶硅膜的工序;在多个上述第二多晶硅膜上形成栅电极形状的掩模的工序;用上述掩模对多个上述第二多晶硅膜进行构图的工序;在栅长方向上夹着构图了的多个上述第二多晶硅膜形成由绝缘体构成的侧壁的工序;用上述掩模和上述侧壁对上述保护膜进行构图,选择性地露出多个上述半导体层的上表面的工序;向选择性地露出的多个半导体层注入杂质,形成源/漏区的工序;除去上述掩模,露出多个上述第二多晶硅膜的上表面的工序;使上表面被露出的多个上述第二多晶硅膜分别变成硅化物的工序;在整个表面上形成第二层间绝缘膜,在上述第二层间绝缘膜中形成通到每一个上述硅化物的开口,通过填埋上述开口形成与每一个上述硅化物共同连接的金属的连接部的工序;以及形成与上述连接部连接的布线的工序。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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