[发明专利]用于测试设定/保持时间的设备和方法无效
| 申请号： | 200910133980.1 | 申请日： | 2009-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN101686051A | 公开（公告）日： | 2010-03-31 |
| 发明（设计）人： | 李政勋 | 申请（专利权）人： | 海力士半导体有限公司 |
| 主分类号： | H03K19/08 | 分类号： | H03K19/08;G04F10/00;G11C11/34 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 杨林森;康建峰 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明涉及用于测试设定/保持时间的设备和方法。用于测试设定/保持时间的设备包括：多个数据输入单元，其每个配置成响应于选择信号和设定/保持校准信号来校准输入数据的设定/保持时间；以及芯片外驱动器校准单元，其配置成通过使用多个数据输入单元之一的输入数据输入来产生选择信号和设定/保持校准信号。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 设定 保持 时间 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试设定/保持时间的设备，包括：多个数据输入单元，其每个配置成响应于选择信号和设定/保持校准信号来校准输入数据的设定/保持时间；以及芯片外驱动器校准单元，其配置成通过使用所述输入数据响应于测试模式信号来产生所述选择信号和所述设定/保持校准信号。
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