[发明专利]调试电路无效
| 申请号： | 200910140143.1 | 申请日： | 2004-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN101604274A | 公开（公告）日： | 2009-12-16 |
| 发明（设计）人： | 上田泰志;岡崎诚 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/24 | 分类号： | G06F11/24 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 吕林红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种调试电路，在变换块(140)中，把由选择块(120)输出的异常的原因解析中认为有效的多个内部信号，用从时间生成块(130)输出的信号进行栓锁，并变换为串行数据输出到输出块(150)，因此，可以用少量的外部管脚观测LSI内部的多个信号，可以迅速并且可靠地执行LSI的动作异常的解析。 | ||
| 搜索关键词： | 调试 电路 | ||
【主权项】：
1.一种调试电路，调试包含实现所希望逻辑功能的逻辑电路的LSI的功能，其特征在于：包括：从由上述逻辑电路输出的多个时间信号或者多个状态信号中选择规定信号来进行输出的选择块；对由上述选择块选择出的规定信号的电平和由可以从LSI外部改写的第一寄存器设定的值进行比较判别，并输出其结果的信号电平判别块；和把由上述选择块选择的规定信号以及上述电平判别结果输出到外部的输出块，上述逻辑电路包括：可以从LSI外部改写的第二寄存器；和根据上述第二寄存器的值来进行多个时间信号、多个状态信号或者多个基准信号的选择的选择电路，上述信号电平判别块对上述第一寄存器的多个位的电平和与各个位对应的、由上述选择块选择出的规定信号的电平进行比较，根据比较结果是否完全一致来变更输出。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社，未经松下电器产业株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200910140143.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：优化基于目录的一致性协议中的并发访问
- 下一篇：主弹簧
