[发明专利]用于半导体封装体的引线框无效
申请号: | 200910140565.9 | 申请日: | 2009-05-08 |
公开(公告)号: | CN101882609A | 公开(公告)日: | 2010-11-10 |
发明(设计)人: | 姚晋钟;白志刚;骆军华;宋美江;朱红 | 申请(专利权)人: | 飞思卡尔半导体公司 |
主分类号: | H01L23/495 | 分类号: | H01L23/495;H01L23/13;H01L23/48 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 申发振 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及用于半导体封装体的引线框。引线框包括引线框结构,其具有管芯支撑区域和多个电接触区域。引线框具有形成在该引线框结构表面上的浅凹槽。 | ||
搜索关键词: | 用于 半导体 封装 引线 | ||
【主权项】:
一种引线框,包含:引线框结构,该引线框结构具有管芯支撑区域和多个电接触区域,其中在所述引线框结构的表面上至少部分地围绕所述引线框结构的多个关键部分中的相应的关键部分形成有多个浅凹槽。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于飞思卡尔半导体公司,未经飞思卡尔半导体公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910140565.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种镱计动态压阻的测试方法
- 下一篇:ZnO系半导体元件