[发明专利]检测处理器资源的架构易损性有效
| 申请号： | 200910141958.1 | 申请日： | 2009-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN101566958A | 公开（公告）日： | 2009-10-28 |
| 发明（设计）人： | A·比斯瓦斯;N·桑达拉拉彦;S·穆克赫吉 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00;G06F11/36 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 柯广华;徐予红 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明的名称为“检测处理器资源的架构易损性”。在一个实施例中，提供一种时间片检测器以基于处理器度量标准来检测处理器的易损性测量，每个处理器度量与时间片期间的处理器结构的操作相关联，还提供控制器以基于易损性测量来控制错误缓解单元。对其他实施例进行了描述并要求其权利。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 处理器 资源 架构 易损 | ||
【主权项】：
1、一种装置，包括：多个计数器，所述多个计数器的每个为处理器的存储单元维护时间片期间的利用值；第二计数器，对所述时间片期间由所述处理器的预测单元作出的错误预测的数量进行计数；以及第一逻辑，至少部分地基于所述利用值和所述错误预测的数量来为所述处理器的至少第一部分确定对于所述时间片的易损性测量。
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