[发明专利]多重场板LDMOS器件及其加工方法无效
申请号: | 200910174438.0 | 申请日: | 2009-11-03 |
公开(公告)号: | CN101707208A | 公开(公告)日: | 2010-05-12 |
发明(设计)人: | 陈强;马强 | 申请(专利权)人: | 苏州远创达科技有限公司;远创达科技(香港)有限公司;远创达科技(开曼)有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/40;H01L21/336;H01L21/28 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 范晴 |
地址: | 215123 江苏省苏州市工业园区独墅*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种多重场板LDMOS器件,包括半导体本体,半导体本体表面设有至少两个场板,每个场板具有与半导体本体表面平行的水平部分,不同场板的水平部分与半导体本体表面之间的距离不等。一种多重场板LDMOS器件的加工方法,包括以下步骤:1)加工半导体本体;2)于半导体本体的表面沉积一个介质层,再于该介质层上沉积一导电薄膜,经光刻和腐蚀工艺形成第一个场板;3)随后再依次沉积一个介质层和导电薄膜,经光刻和腐蚀工艺形成第二个场板;4)根据需要制作的场板的个数重复步骤3)。在相同的源漏击穿电压要求下,运用多重场板的LDMOS器件可以显著增加N型漂移区的掺杂浓度,器件的导通电阻因而可以得到显著的改善。 | ||
搜索关键词: | 多重 ldmos 器件 及其 加工 方法 | ||
【主权项】:
一种多重场板LDMOS器件,包括半导体本体(1),其特征在于:所述半导体本体(1)表面设有至少两个场板(2),所述每个场板(2)具有与半导体本体(1)表面平行的水平部分(21),不同场板(2)的水平部分(21)与半导体本体(1)表面之间的距离不等。
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