[发明专利]使用双镶嵌工艺制造半导体器件的方法以及制造具有连通孔的制品的方法有效

专利信息
申请号: 200910175121.9 申请日: 2006-12-07
公开(公告)号: CN101667555A 公开(公告)日: 2010-03-10
发明(设计)人: 寺崎敦则;关淳一;田中一郎 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 康建忠
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种用于制造半导体器件的方法,其中很容易控制布线沟槽和通孔在深度方向上的长度。在衬底上制备具有第一绝缘膜的部件,并在上述第一绝缘膜上设置一层。在上述的层上压印具有图形的模型,以便形成具有布线沟槽和第一通孔的第二绝缘膜,该图形对应于布线沟槽和第一通孔。之后,通过使用上述的第二绝缘膜作为掩模蚀刻上述的第一绝缘膜,以便在第一绝缘膜中形成连接到第一通孔的第二通孔。
搜索关键词: 使用 镶嵌 工艺 制造 半导体器件 方法 以及 具有 连通 制品
【主权项】:
1.一种通过使用双镶嵌工艺制造半导体器件的方法,包括以下步骤:在衬底上制备具有第一绝缘膜的部件;在第一绝缘膜上设置一层;在该层上压印具有图形的模型,以便形成具有布线沟槽和第一通孔的第二绝缘膜,该图形对应于所述布线沟槽和第一通孔;通过使用第二绝缘膜作为掩模蚀刻第一绝缘膜,以便在第一绝缘膜中形成第二通孔,第二通孔比第一通孔长并且连通到第一通孔;蚀刻第二绝缘膜以便使所述布线沟槽连通到第二通孔;以及在所述布线沟槽和第二通孔中填充导电材料。
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