[发明专利]一种用于红外/紫外-可见光谱仪上的漫反射样品仓无效

专利信息
申请号: 200910180740.7 申请日: 2009-10-21
公开(公告)号: CN102042956A 公开(公告)日: 2011-05-04
发明(设计)人: 王斌;张颖;姚青 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司北京化工研究院
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/35;G01N21/33
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人: 齐永红;唐彬
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种用于红外/紫外-可见光谱仪上的漫反射样品仓,用于环境敏感材料的红外/紫外-可见光谱测量。通过仓体与密封仓帽通过螺纹连接,使仓体顶部平面与光学窗片通过密封圈压紧,实现仓体顶部平面与窗片平面的密封。光学窗片可通过弹性胶粘接于密封仓帽上,密封仓帽顶部中央竖直焊接一矩形金属薄片。可以实现环境敏感材料的红外或紫外-可见光谱测量而避免受到周围环境的污染和干扰。器件结构简单,加工容易,成本相对低廉。
搜索关键词: 一种 用于 红外 紫外 可见 光谱仪 漫反射 样品
【主权项】:
一种漫反射样品仓,其特征在于包括密封圈、光学窗片、密封仓帽,仓体与密封仓帽通过螺纹连接,使仓体顶部平面与光学窗片通过密封圈压紧,光学窗片可通过弹性胶粘接于密封仓帽上,密封仓帽顶部中央竖直焊接一矩形金属薄片。
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