[发明专利]焦硅酸钇闪烁单晶的浮区法生长方法无效

专利信息
申请号: 200910196441.2 申请日: 2009-09-25
公开(公告)号: CN101665982A 公开(公告)日: 2010-03-10
发明(设计)人: 冯鹤;丁栋舟;任国浩;潘尚可;陆晟;张卫东 申请(专利权)人: 中国科学院上海硅酸盐研究所
主分类号: C30B29/34 分类号: C30B29/34;C30B13/00
代理公司: 上海光华专利事务所 代理人: 许亦琳;余明伟
地址: 200050上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于无机化合物晶体及制造技术领域,具体涉及一种焦硅酸钇闪烁单晶的浮区法生长方法。本发明的生长方法包括:原料的合成,熔料,接种,生长和降温四个步骤,其中,晶体生长完毕后的降温过程中,在相变点温度以上时,降温速率为30~50℃/分钟,在相变点温度以下时,降温速率为100~200℃/小时。本发明的生长方法解决了YPS晶体生长过程中非一致熔融的问题和相变的问题,可以获得晶体质量较好的YPS高温δ相单晶。
搜索关键词: 硅酸 闪烁 浮区法 生长 方法
【主权项】:
1、一种焦硅酸钇闪烁单晶的浮区法生长方法,包括如下步骤:1)配料:将原料按照晶体组成比例配料后混合均匀制得混合料;2)预烧结:将步骤1)中制得的混合料压成料棒后进行预烧结后制得多晶棒;3)晶体生长:将多晶棒和籽晶安装在浮区炉中,密封并通入保护气体,然后升温至多晶棒和籽晶融化,升温同时多晶棒和籽晶分别同向或反向转动,保温,接种;然后进行晶体生长;4)降温:晶体生长完毕后进行降温,在降温过程中,在相变点温度以上时,降温速率为30~50℃/分钟,在相变点温度以下时,降温速率为100~200℃/小时。
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