[发明专利]老化测试系统有效
| 申请号： | 200910196931.2 | 申请日： | 2009-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN102043100A | 公开（公告）日： | 2011-05-04 |
| 发明（设计）人： | 张荣哲;简维廷;江顺旺 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李丽 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种老化测试系统，包括老化板和老化测试装置，所述老化板包括：第一接口件，适于与所述老化测试装置相连接，实现与所述老化测试装置之间信号的输入和/或输出；第二接口件，适于与待测器件相连接，实现与所述待测器件之间信号的输入和/或输出；其中，所述老化测试系统还包括：引脚匹配单元，与所述老化板活动连接，适于根据所述待测器件的引脚定义，调整所述第一接口件与第二接口件中信号的对应连接关系。本发明能够实现采用同一块老化板对具有相同引脚数量、但不同引脚定义的不同待测器件进行老化测试，与现有老化板相兼容，提高了生产效率，并节约了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种老化测试系统，包括老化板和老化测试装置，所述老化板包括：第一接口件，适于与所述老化测试装置相连接，实现与所述老化测试装置之间信号的输入和/或输出；第二接口件，适于与待测器件相连接，实现与所述待测器件之间信号的输入和/或输出；其特征在于，所述老化测试系统还包括：引脚匹配单元，与所述老化板活动连接，适于根据所述待测器件的引脚定义，调整所述第一接口件与第二接口件中信号的对应连接关系。
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