[发明专利]具有绝缘埋层的混合晶向应变硅衬底制备方法无效

专利信息
申请号: 200910197073.3 申请日: 2009-10-13
公开(公告)号: CN101692436A 公开(公告)日: 2010-04-07
发明(设计)人: 魏星;王湘;李显元;张苗;王曦;林成鲁 申请(专利权)人: 上海新傲科技股份有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L21/762 分类号: H01L21/762
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人: 翟羽
地址: 201821 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种具有绝缘埋层的混合晶向应变硅衬底制备方法,包括如下步骤:提供一半导体衬底,所述半导体衬底包括第一锗硅层与支撑衬底,所述第一锗硅层具有第一晶向,支撑衬底具有第二晶向;在第一锗硅层中形成生长窗口;在生长窗口侧壁的表面形成侧墙;在生长窗口中外延生长第二锗硅层;抛光第一与第二锗硅层;注入氧离子至半导体衬底中并退火;在第一与第二锗硅层表面生长具有第一应变硅层与第二应变硅层。本发明的优点在于,保证了所有的器件层的下方都有绝缘埋层,以实现器件层和衬底之间的介质隔离。并且能够保持应变硅的应变程度,避免其在后续工艺中由于环境的变化而发生晶格的弛豫,导致应变特性丧失。
搜索关键词: 具有 绝缘 混合 应变 衬底 制备 方法
【主权项】:
一种具有绝缘埋层的混合晶向应变硅衬底制备方法,其特征在于,包括如下步骤:提供一半导体衬底,所述半导体衬底包括第一锗硅层与支撑衬底,所述第一锗硅层具有第一晶向,支撑衬底具有第二晶向;在第一锗硅层中形成生长窗口,所述生长窗口贯穿至下方的支撑衬底;在生长窗口侧壁的表面形成侧墙;在生长窗口中外延生长第二锗硅层,所述第二锗硅层与支撑衬底具有相同的第二晶向;抛光第一与第二锗硅层,使第一锗硅层与第二锗硅层的表面处于同一平面;注入氧离子至半导体衬底中并退火,以形成连续的绝缘埋层;在第一锗硅层表面生长具有第一晶向的第一应变硅层,并在第二锗硅层表面生长具有第二晶向的第二应变硅层。
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