[发明专利]具有绝缘埋层的混合晶向应变硅衬底制备方法无效
申请号: | 200910197073.3 | 申请日: | 2009-10-13 |
公开(公告)号: | CN101692436A | 公开(公告)日: | 2010-04-07 |
发明(设计)人: | 魏星;王湘;李显元;张苗;王曦;林成鲁 | 申请(专利权)人: | 上海新傲科技股份有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
地址: | 201821 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种具有绝缘埋层的混合晶向应变硅衬底制备方法,包括如下步骤:提供一半导体衬底,所述半导体衬底包括第一锗硅层与支撑衬底,所述第一锗硅层具有第一晶向,支撑衬底具有第二晶向;在第一锗硅层中形成生长窗口;在生长窗口侧壁的表面形成侧墙;在生长窗口中外延生长第二锗硅层;抛光第一与第二锗硅层;注入氧离子至半导体衬底中并退火;在第一与第二锗硅层表面生长具有第一应变硅层与第二应变硅层。本发明的优点在于,保证了所有的器件层的下方都有绝缘埋层,以实现器件层和衬底之间的介质隔离。并且能够保持应变硅的应变程度,避免其在后续工艺中由于环境的变化而发生晶格的弛豫,导致应变特性丧失。 | ||
搜索关键词: | 具有 绝缘 混合 应变 衬底 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种具有绝缘埋层的混合晶向应变硅衬底制备方法,其特征在于,包括如下步骤:提供一半导体衬底,所述半导体衬底包括第一锗硅层与支撑衬底,所述第一锗硅层具有第一晶向,支撑衬底具有第二晶向;在第一锗硅层中形成生长窗口,所述生长窗口贯穿至下方的支撑衬底;在生长窗口侧壁的表面形成侧墙;在生长窗口中外延生长第二锗硅层,所述第二锗硅层与支撑衬底具有相同的第二晶向;抛光第一与第二锗硅层,使第一锗硅层与第二锗硅层的表面处于同一平面;注入氧离子至半导体衬底中并退火,以形成连续的绝缘埋层;在第一锗硅层表面生长具有第一晶向的第一应变硅层,并在第二锗硅层表面生长具有第二晶向的第二应变硅层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海新傲科技股份有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所,未经上海新傲科技股份有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910197073.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光伏巡日探测器
- 下一篇:利用通用服务接口的无线网络中的定时优化技术
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造