[发明专利]高浓度纳米颗粒粒径的测量方法及其检测装置无效
| 申请号： | 200910197286.6 | 申请日： | 2009-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN101762441A | 公开（公告）日： | 2010-06-30 |
| 发明（设计）人： | 李绍新;王永东;张延娇;黎国锋 | 申请（专利权）人： | 广东医学院;东莞理工学院 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人： | 王裕 |
| 地址： | 524023*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及测量技术领域，具体涉及一种高浓度纳米颗粒粒径的测量方法及其检测装置。本发明所述方法能有效进行高浓度样品测量，对样品无干扰、无损伤，能快速、准确测量纳米颗粒粒径，所述装置结构简单紧凑，小型实用，适合于现场或在线监测的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 浓度 纳米 颗粒 粒径 测量方法 及其 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种高浓度溶液纳米颗粒粒径的测量方法，其特征在于包括如下步骤：a)连续激光由光纤入射到光纤耦合器，经分光后分别入射到样品臂和参考臂；b)进入样品臂的光经准直聚焦透镜组照射到样品上，产生散射光，散射光经准直聚焦透镜组收集返回到光纤耦合器；c)进入参考臂的光入射到干涉仪并从干涉仪经参考臂返回到光纤耦合器；d)从样品臂和参考臂返回到光纤耦合器的光发生干涉，并传输给光电倍增管，光电倍增管将光信号转换为电脉冲信号输出给光谱分析仪；b)光谱分析仪处理电脉冲信号。
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