[发明专利]用作静电保护结构的MOS晶体管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200910201758.0 申请日: 2009-11-05
公开(公告)号: CN102054865A 公开(公告)日: 2011-05-11
发明(设计)人: 王邦麟;苏庆 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336;H01L21/28;H01L23/60
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 陈履忠
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种用作静电保护结构的MOS晶体管,在最靠近所述MOS晶体管的源极的隔离结构上方具有一个场板,所述场板为一层多晶硅或金属,所述场板的大小小于或等于所述隔离结构的大小;所述场板与栅极相连,并一起通过串联一电阻接地;或者所述场板通过串联一电阻接地,所述栅极通过串联另一电阻接地。本发明还公开了所述MOS晶体管的制造方法,所述场板与所述栅极是对同一层材料一起刻蚀形成的。本发明可以降低了用作静电保护结构的MOS晶体管的触发电压。
搜索关键词: 用作 静电 保护 结构 mos 晶体管 及其 制造 方法
【主权项】:
一种用作静电保护结构的MOS晶体管,其特征是,在最靠近所述MOS晶体管的源极的隔离结构上方具有一个场板,所述场板为一层多晶硅或金属,所述场板的大小小于或等于所述隔离结构的大小;所述场板与栅极相连,并一起通过串联一电阻接地;或者所述场板通过串联一电阻接地,所述栅极通过串联另一电阻接地。
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