[发明专利]图像处理方法、涂装检查方法和涂装检查系统有效

专利信息
申请号: 200910204678.0 申请日: 2009-10-10
公开(公告)号: CN101727664A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 浅田康德;宫里宪夫;山崎英治 申请(专利权)人: 丰田自动车株式会社
主分类号: G06T5/20 分类号: G06T5/20;G01N21/88
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 吕林红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种图像处理方法、涂装检查方法和涂装检查系统。在图像处理方法中,首先,从构成原图像数据的像素中,以预定间距按顺序逐个地拾取像素。将它们设定为基准像素。接着,针对每个基准像素设定接近区域,并且计算每个接近区域中的类似密度的平均值。然后,针对每个基准像素设定宽区域,并且计算每个宽区域中的类似密度的平均值。最后,从原图像的图像数据中减去宽区域中的类似密度的平均值,得到它们之间的差。
搜索关键词: 图像 处理 方法 检查 系统
【主权项】:
一种图像处理方法,使用包括处理单元和存储单元的图像处理系统对图像数据进行微分,包括:图像数据取得步骤,使用处理单元取得图像数据,这些图像数据包括由图像拾取装置得到的每个像素的密度;基准像素取得步骤,从构成图像数据的像素中,以预定间距按顺序逐个地拾取像素,并且将所拾取的像素设定为基准像素;接近区域设定步骤,在每个基准像素周围设定预定区域作为接近区域;第一类似密度取得步骤,使用处理单元,按照密度差增大的顺序,从每个接近区域所包含的像素中,拾取预定个数的、相对于对应的基准像素的密度的密度差小的像素;第一类似密度平均计算步骤,使用处理单元,针对每个接近区域计算在第一类似密度取得步骤中拾取的像素的密度的平均值;宽区域设定步骤,在每个基准像素周围设定大于接近区域的预定区域作为宽区域;第二类似密度取得步骤,使用处理单元,按照密度差增大的顺序,从每个宽区域所包含的像素中,拾取预定个数的、相对于在第一类似密度平均计算步骤中计算的对应的平均值的密度差小的像素;第二类似密度平均计算步骤,使用处理单元,针对每个宽区域计算在第二类似密度取得步骤中拾取的像素的密度的平均值;以及使用处理单元计算每个基准像素的密度与在第二类似密度平均计算步骤中计算的对应的平均值之差的步骤。
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