[发明专利]铜膜的成膜方法无效

专利信息
申请号: 200910205875.4 申请日: 2005-02-25
公开(公告)号: CN101684547A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 小岛康彦;吉井直树 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: C23C16/06 分类号: C23C16/06;C23C16/18;C23C16/44;H01L21/285;H01L21/3205
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 龙 淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种成膜方法,利用反复进行下述工序的ALD(AtomicLayer Deposition)法,在基板上形成Cu膜:将蒸汽压高,对衬底湿润性好的Cu羧酸络合物或其衍生物气化,作为原料气体使用,且使用H2作为还原气体,使原料气体吸附在基板上的工序;和利用还原气体还原吸附的原料气体,形成Cu膜的工序。由此可形成保形(conformal)良好膜质的Cu薄膜。
搜索关键词: 方法
【主权项】:
1.一种成膜方法,交替进行向基板上供给含有Cu的原料物质的工序;和停止供给所述含有Cu的原料物质后,向所述基板供给还原性气体的工序,其中,具有:将成膜初期供给还原性气体的时间作为第一时间T1,交替进行所述两个工序的第一成膜期;和将所述还原性气体供给时间作为比所述T1短的第二时间T2,在所述第一成膜期之后、交替进行所述两个工序的第二成膜期。
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