[发明专利]应用于集成电路的物理设计验证的方法及其装置在审
| 申请号： | 200910211392.5 | 申请日： | 2009-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN102054081A | 公开（公告）日： | 2011-05-11 |
| 发明（设计）人： | 顾久予 | 申请（专利权）人： | 新思科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 刘国伟 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及一种应用于集成电路的物理设计验证的方法及其装置，所述应用于集成电路的物理设计验证的方法包含下列步骤：对比一集成电路的原始电路网表及所述集成电路的布局资料；以及根据对比结果标示所述集成电路内的元件的输出/入端的虚拟文字。 | ||
| 搜索关键词： | 应用于 集成电路 物理 设计 验证 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种应用于集成电路的物理设计验证的方法，其特征在于包含下列步骤：对比一集成电路的原始电路网表及所述集成电路的布局资料；及根据对比结果标示所述集成电路内的元件的输出/入端的虚拟文字。
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