[发明专利]集成电路的天线效应的检查方法及其装置有效
| 申请号： | 200910211394.4 | 申请日： | 2009-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN102054083A | 公开（公告）日： | 2011-05-11 |
| 发明（设计）人： | 顾久予 | 申请（专利权）人： | 新思科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 刘国伟 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及一种集成电路的天线效应的检查方法与其装置，所述集成电路的天线效应的检查方法包含下列步骤：计算一集成电路的各金属层的节点对所述集成电路的各元件所造成的天线效应值；统计各节点对所述元件所造成的累积天线效应值的最大值；以及若存在一节点，其累积天线效应值的最大值小于一临界值，则定义所述节点符合一天线效应检查规则。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 天线 效应 检查 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种集成电路的天线效应的检查方法，其特征在于包含下列步骤：计算一集成电路的各金属层的节点对所述集成电路的各元件所造成的天线效应值；统计各节点对所述元件所造成的累积天线效应值的最大值；及若存在一节点，其累积天线效应值的最大值小于一临界值，则定义所述节点符合一天线效应检查规则。
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