[发明专利]用于全数字锁相环的锁定检测方法及装置有效
| 申请号： | 200910311790.4 | 申请日： | 2009-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN102104378A | 公开（公告）日： | 2011-06-22 |
| 发明（设计）人： | 田欢欢;张海英 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | H03L7/085 | 分类号： | H03L7/085 |
| 代理公司： | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人： | 王建国 |
| 地址： | 100029 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于全数字锁相环的锁定检测方法，包括以下步骤：当全数字锁相环进入动态锁定状态时，将全数字锁相环的相位误差信号或数字控制振荡器控制字记录在寄存器阵列中；统计寄存器阵列中每个寄存器中的值；计算寄存器阵列的不相等数，其中，当寄存器阵列中的值全相等时，不相等数等于0，否则相等数等于col(1，m)*col(1，n)；以及根据不相等数生成锁定信号，以确定全数字锁相环是否锁定，其中，当寄存器阵列中的值不全相等时，寄存器阵列的每个寄存器中的值为第一值或第二值，以及其中，m，n是正整数，m表示其值为第一值的寄存器是数量，以及n表示其值为第二值的寄存器是数量。本发明还提供了一种用于全数字锁相环的锁定检测装置。本发明能够实现对锁相环的锁定进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 数字 锁相环 锁定 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于全数字锁相环的锁定检测方法，其特征在于，包括：当所述全数字锁相环进入动态锁定状态时，将所述全数字锁相环的相位误差信号或数字控制振荡器控制字记录在寄存器阵列中；统计所述寄存器阵列中每个寄存器中的值；计算所述寄存器阵列的不相等数，其中，当所述寄存器阵列中的值全相等时，所述不相等数等于0，如果所述寄存器阵列中的值分别为第一值或第二值，所述不相等数等于col(1，m)*col(1，n)；以及根据所述不相等数生成锁定信号，以确定所述全数字锁相环是否锁定，其中，其中，m，n是正整数，m表示其值为所述第一值的寄存器的数量，以及n表示其值为所述第二值的寄存器的数量。
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