[发明专利]半导体装置及其制造方法有效
申请号: | 200911000159.9 | 申请日: | 2009-12-18 |
公开(公告)号: | CN101877356A | 公开(公告)日: | 2010-11-03 |
发明(设计)人: | 小池英敏;幸山裕亮 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L23/485;H01L21/60 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 陈萍 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种半导体装置及其制造方法。例如在形成了单位单元的Si外延层上形成贯通该Si外延层的接触孔。然后使其内壁氧化,形成膜厚大致均匀的薄绝缘膜。隔着该绝缘膜,在接触孔内埋入低电阻多晶硅形成接触层,从而形成兼作对准标记的背面取出电极的结构。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,包括:半导体基板;背面取出电极,在贯通所述半导体基板的接触孔内,隔着形成为具有均匀膜厚的绝缘膜埋入第1导电材料,用于在所述半导体基板的背面侧取出还用作对位用标记的电极;以及焊盘,设置在所述半导体基板的背面,与所述背面取出电极连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的