[实用新型]接触式功能测试装置无效
| 申请号： | 200920004100.6 | 申请日： | 2009-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN201348646Y | 公开（公告）日： | 2009-11-18 |
| 发明（设计）人： | 冯是睿;陈中滨;吴文峰 | 申请（专利权）人： | 建汉科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 朱丽华 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种接触式功能测试装置，包括有：一转接板，包括有一第一表面及一第二表面；一芯片容置区，设置于该转接板的第一表面，并用以容置一芯片；一个以上的穿孔，设置于该转接板的芯片容置区内，并贯穿该转接板；一个以上的探针，分别设置于该穿孔内；及一导电布，设置于该转接板的第二表面，并电性连接该探针。其中探针有一爪部及一顶部，爪部与芯片接触，顶部则与导电布接触。还包括有一容置空间，设于转接板的第二表面，并用以容置导电布，上述穿孔由芯片容置区延伸至容置空间。可避免探针与芯片或探针与电路板在量测时出现接触不稳固的情形。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 功能 测试 装置 | ||
【主权项】：
1、一种接触式功能测试装置，其特征在于包括有：一转接板，包括有一第一表面及一第二表面；一芯片容置区，设置于该转接板的第一表面，并用以容置一芯片；一个以上的穿孔，设置于该转接板的芯片容置区内，并贯穿该转接板；一个以上的探针，分别设置于该穿孔内；及一导电布，设置于该转接板的第二表面，并电性连接该探针。
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