[实用新型]一种计算埋入式导体深度的探测仪有效
| 申请号： | 200920007569.5 | 申请日： | 2009-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN201607209U | 公开（公告）日： | 2010-10-13 |
| 发明（设计）人： | 约翰·马克果;理查德·戴维皮尔逊 | 申请（专利权）人： | 雷迪有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/26 | 分类号： | G01B7/26;G01V3/08 |
| 代理公司： | 上海衡方知识产权代理有限公司 31234 | 代理人： | 卞孜真 |
| 地址： | 英国布里*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 一种计算埋入式导体(25)深度的探测仪(1)，包括：多个探测由导体(25)辐射的电磁场的天线(B，M，T)；基于对天线B，M，T的探测，计算上述导体(25)的深度的装置；以及当一个或者更多的预定数值达到满意时，显示计算出的上述导体深度的装置。本实用新型探测仪主要应用于导体探测领域，用于探测埋在地下的导体。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 计算 埋入 导体 深度 探测仪 | ||
【主权项】：
一种计算埋入式导体深度的探测仪，其特征在于，探测仪包括：用来检测上述导体辐射的电磁场的多个天线；在所述天线探测范围的基础上计算上述导体深度的装置，包括依次连接的：前置放大、均衡滤波、增益开关，混频器，编解码器，及数字信号处理模块；以及显示计算出的上述导体深度的用户界面。
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