[实用新型]一种用于数模混合信号集成电路的测试装置无效

专利信息
申请号: 200920031687.X 申请日: 2009-01-14
公开(公告)号: CN201331568Y 公开(公告)日: 2009-10-21
发明(设计)人: 刘义芳 申请(专利权)人: 西安明泰半导体测试有限公司
主分类号: G01R31/3167 分类号: G01R31/3167
代理公司: 西安弘理专利事务所 代理人: 罗 笛
地址: 710065陕西省西安市高*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型公开了一种用于数模混合信号集成电路的测试装置,包括模拟电路测试系统和测试板,在测试板上设置有数字信号测试模块和数模混合类IC的测量工位,数模混合类IC中的数字部分与数字信号测试模块连接、数模混合类IC中的模拟部分还通过测试板上的接口与模拟电路测试系统的电源、多路电压电流源、交流源表、精密电压表、继电器控制接口、时间单元分别连接;其中的数字信号测试模块由电源模块、微控制器、数字接口和电平匹配构成,电源模块分别与微控制器和电平匹配连接,电平匹配与微控制器连接,微控制器与数字接口连接。本实用新型的测试装置,具有数模混合信号测试功能,结构简单,制作成本低。
搜索关键词: 一种 用于 数模 混合 信号 集成电路 测试 装置
【主权项】:
1、一种用于数模混合信号集成电路的测试装置,包括模拟电路测试系统和测试板(8),模拟电路测试系统包括电源(1)、多路电压电流源(2)、交流源表(3)、精密电压表(4)、继电器控制接口(5)和时间单元(6),测试板(8)分别与上述电源(1)、多路电压电流源(2)、交流源表(3)、精密电压表(4)、继电器控制接口(5)和时间单元(6)相连接,其特征在于:所述测试板(8)上设置有数模混合类IC(16)的测量工位和一个数字信号测试模块(9),数模混合类IC(16)中的数字部分(10)与数字信号测试模块(9)连接,数模混合类IC(16)中的模拟部分(11)通过测试板(8)上的接口与模拟电路测试系统的电源(1)、多路电压电流源(2)、交流源表(3)、精密电压表(4)、继电器控制接口(5)和时间单元(6)分别连接。
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