[实用新型]微带式环行器的测试架无效

专利信息
申请号: 200920040610.9 申请日: 2009-04-21
公开(公告)号: CN201392369Y 公开(公告)日: 2010-01-27
发明(设计)人: 黄家栋 申请(专利权)人: 无锡华测电子系统有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26;G01R27/06
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所 代理人: 曹祖良
地址: 214072江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉及一种微带式环行器的测试架,所述测试架为U形,U形测试架的一个侧壁固定有二个同轴转接器,另一个侧壁固定有一个同轴转接器,同轴转接器的导体从测试架侧壁向内伸出,测试架的底板与同轴转接器的导体之间依次设置有弹性垫片、金属滑块及微带式环行器,设在测试架底部的螺钉穿过测试架的底板及弹性垫片后与金属滑块螺纹连接,金属滑块的侧壁上设置有非金属介质,非金属介质与金属滑块的侧壁构成分布电容。金属滑块在螺钉与弹性垫片的作用下带动微带式环行器上下移动,使微带式环行器与同轴转接器的导体有良好接触;分布电容保证了微带式环行器有良好的微波接地;可得到环行器精密的测量结果。
搜索关键词: 微带 环行器 测试
【主权项】:
1、一种微带式环行器的测试架,其特征是:所述测试架(4)为U形,U形测试架(4)的一个侧壁外侧固定有二个同轴转接器(2),其另一个侧壁外侧固定有一个同轴转接器(2),所述同轴转接器(2)的导体从U形测试架(4)侧壁向内伸出,U形测试架(4)的底板与同轴转接器(2)的导体之间依次设置有弹性垫片(6)、金属滑块(7)及微带式环行器(3),设在U形测试架(4)底部的螺钉(8)穿过U形测试架(4)的底板及弹性垫片(6)后与金属滑块(7)螺纹连接,金属滑块(7)的侧壁上设置有非金属介质,所述非金属介质与金属滑块(7)的侧壁构成分布电容。
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