[实用新型]半导体元件独立测试机台及测试分类系统有效
| 申请号： | 200920074075.9 | 申请日： | 2009-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN201522545U | 公开（公告）日： | 2010-07-07 |
| 发明（设计）人： | 曾一士 | 申请（专利权）人： | 致茂电子(苏州)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28;G01R31/02;G01R1/02;G01R31/01;B07C5/34 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 潘诗孟 |
| 地址： | 215011 江苏省苏州市苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体元件独立测试机台。该测试机台则包含：一个基座、一组搬移测试装置及一组处理装置，以其测试容置于一个承载装置的复数半导体元件，由搬移测试装置将该等待测半导体元件移至/移出一个测试位置并进行测试，处理装置则接收该搬移测试装置测试结果，将该测试结果与受测半导体元件之位置纪录一并输出，使后续分类机台可轻松配合不同复数测试机台，得以持续进行其它独立测试机台的分类作业，且测试分类系统配置将更富弹性。本实用新型还公开了一种采用上述半导体元件独立测试机台的测试分类系统。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 元件 独立 测试 机台 分类 系统 | ||
【主权项】：
一种半导体元件独立测试机台，用于测试复数分别容置于一个承载装置之复数对应容置槽中的半导体元件，其特征是，该测试机台包含基座、搬移测试装置和处理装置，其中：该基座形成有入料位置和出料位置，入料位置用于置放容置有待测半导体元件的承载装置，出料位置用于置放容置有完测之半导体元件的承载装置；该搬移测试装置具有至少一个测试位置，用于将待测半导体元件移至该测试位置进行测试，并将完测半导体元件移出该测试位置；该处理装置用于接收该搬移测试装置的测试结果，并将该测试结果与受测半导体元件在承载装置的容置槽位置共同记录并输出。
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