[实用新型]一种芯片测试系统及自动测试向量发生器ATPG无效
| 申请号： | 200920131192.4 | 申请日： | 2009-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN201600928U | 公开（公告）日： | 2010-10-06 |
| 发明（设计）人： | 黄建军;吴薇 | 申请（专利权）人： | 黄建军;吴薇 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种能对不同型号的闪存芯片进行测试与软件加载的系统。它利用现场可编程门阵列FPGA芯片设计一个引脚可配置芯片测试座，结合自动测试向量发生器ATPG功能，克服了现有边界扫描测试与加载设备测试脚本编写困难的不足，大幅缩短了测试周期，降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 系统 自动 向量 发生器 atpg | ||
【主权项】：
一种引脚可配置芯片测试座，包括：1组IO口；一个边界扫描JTAG接口；一个通用串行总线USB接口；其特征在于，所述引脚可配置芯片测试座还包括：一个现场可编程门阵列FPGA芯片；一个配置芯片；一个Nand Flash闪存芯片；一个自动测试向量发生器ATPG。
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