[实用新型]一种老化测试基板有效
| 申请号： | 200920212174.9 | 申请日： | 2009-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN201535784U | 公开（公告）日： | 2010-07-28 |
| 发明（设计）人： | 刘云海;冯军宏 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/28;G01R19/00 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 屈蘅;李时云 |
| 地址： | 20120*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种老化测试基板，包括：一种老化测试基板，在老化测试试验时连接老化机台，实现老化测试功能。包括：若干器件插座，用于插接待测器件；电源接口金手指，在老化测试试验时连到老化机台的电源接口；其特征在于，每个所述器件插座连接一电阻后，通过金属互联线并联到所述电源接口金手指上。给老化测试基板上的每个器件插座串联一个电阻，在老化试验进行时，通过量测与指定待测器件串联的电阻两端的电压，进而得到待测器件的电流。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 老化 测试 | ||
【主权项】：
一种老化测试基板，在老化测试试验时连接老化机台，实现老化测试功能，包括：若干器件插座，用于插接待测器件；电源接口金手指，在老化测试试验时连到所述老化机台的电源接口；其特征在于，每个所述器件插座连接一电阻，连接电阻后的所有所述器件插座，通过金属互联线并联到所述电源接口金手指上。
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