[实用新型]一种芯片电测装置无效
申请号: | 200920212198.4 | 申请日: | 2009-11-10 |
公开(公告)号: | CN201562035U | 公开(公告)日: | 2010-08-25 |
发明(设计)人: | 曾元宏 | 申请(专利权)人: | 宜硕科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/00 |
代理公司: | 上海唯源专利代理有限公司 31229 | 代理人: | 曾耀先 |
地址: | 201103 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型提出一种芯片电测装置,用于对一待测芯片进行电测,其包括一电测设备、一PCB印刷电路板以及一打线机,所述PCB印刷电路板上表面设置有多个打键处,下表面设置有与各个打键处相对应的焊垫,所述待测芯片的每一引脚通过打线机直接与一打键处打线相连,所述电测设备与该焊垫电连接。本实用新型通过打线机将待测芯片直接连接到PCB印刷电路板上,无须再利用制具实现待测芯片和PCB印刷电路板的连接,使芯片的电测工序省去了购置制具的成本,同时也降低了芯片整体的设计和生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 装置 | ||
【主权项】:
一种芯片电测装置,用于对一待测芯片进行电测,其特征在于,包括一电测设备、一PCB印刷电路板以及一打线机,所述PCB印刷电路板上表面设置有多个打键处,下表面设置有与各个打键处相对应的焊垫,所述待测芯片的每一引脚通过打线机直接与一打键处打线相连,所述电测设备与该焊垫电连接。
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