[实用新型]一种SD卡接口的测试电路、测试卡及测试系统无效
| 申请号： | 200920260845.9 | 申请日： | 2009-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN201562021U | 公开（公告）日： | 2010-08-25 |
| 发明（设计）人： | 何彦平;张鹏程 | 申请（专利权）人： | 深圳市同洲电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G11C7/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种SD卡接口的测试电路，包括MCU、指示灯D1，所述指示灯D1与所述MCU的第一接口电连接，被测试的SD卡接口通讯正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯D1点亮。采用本实用新型的技术方案，由于其直接通过MCU控制指示灯点亮与否，来判断被测试的SD卡接口是否通讯正常，所以操作方便、可靠。且由于其直接使用专用的测试卡，而不是用真实的SD卡，所以避免了使用真实的SD卡测试时，SD卡容易磨损或烧毁，增加测试成本，且当卡多时，容易丢失，不易管理的缺陷，提高了测试效率，降低了测试成本，且便于管理。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 sd 接口 测试 电路 系统 | ||
【主权项】：
一种SD卡接口的测试电路，其特征在于，包括MCU、指示灯D1，所述指示灯D1与所述MCU的第一接口电连接，被测试的SD卡接口通讯正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯D1点亮。
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