[发明专利]用于感测检测元件电流和/或该检测元件中的温度的电子电路装置无效
| 申请号： | 200980103134.3 | 申请日： | 2009-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN102016510A | 公开（公告）日： | 2011-04-13 |
| 发明（设计）人： | M·库茨纳;T·翁格尔 | 申请（专利权）人： | 大陆-特韦斯贸易合伙股份公司及两合公司 |
| 主分类号： | G01D3/028 | 分类号： | G01D3/028 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 杨晓光;周良玉 |
| 地址： | 德国法*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种用于感测通过检测元件(D3、D4)的检测元件流(iD3)和/或所述检测元件(D3、D4)中的温度的电子开关装置，其中所述检测元件(D3、D4)的第一连接被连接到第一晶体管元件(Q1)，所述检测元件(D3、D4)的第二连接被连接到第二晶体管元件(Q2)，其中，所述第一和第二晶体管元件(Q1、Q2)的基极连接直接或间接地彼此连接，所述第二晶体管元件(Q2)提供和/或调制电评估信号(iCQ2)，所述电评估信号的信号值直接或间接至少依赖于所述检测元件流(iD3)和/或所述检测元件(D3、D4)中的所述温度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 元件 电流 中的 温度 电子电路 装置 | ||
【主权项】：
一种用于感测通过检测元件(D3、D4)的检测元件电流(iD3)和/或所述检测元件(D3、D4)中的温度的电子电路装置，其中所述检测元件(D3、D4)的第一连接被连接到第一晶体管元件(Q1)，所述检测元件(D3、D4)的第二连接被连接到第二晶体管元件(Q2)，其特征在于，所述第一和第二晶体管元件(Q1、Q2)的基极连接直接或间接地彼此连接，以及所述第二晶体管元件(Q2)提供和/或调制电评估信号(iCQ2)，所述电评估信号的信号值直接或间接至少依赖于所述检测元件电流(iD3)和/或所述检测元件(D3、D4)中的所述温度。
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