[发明专利]具有到单个导电柱的一对存储器单元串的存储器阵列有效

专利信息
申请号: 200980108602.6 申请日: 2009-03-12
公开(公告)号: CN101971324A 公开(公告)日: 2011-02-09
发明(设计)人: 西奥多·皮耶克尼 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: H01L21/8239 分类号: H01L21/8239;H01L21/28
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 宋献涛
地址: 美国爱*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明揭示存储器阵列及形成存储器阵列的方法。一个此类存储器阵列(104)具有共享单个导电柱(230)的第一串联耦合第一存储器单元(450)串及第二串联耦合第二存储器单元(450)串,所述单个导电柱(230)形成用于两个串联耦合存储器单元(450)串的沟道。举例来说,第一存储器单元(450)可具有在所述导电柱(230)的第一侧上的第一控制栅极(424)及插入在所述导电柱(230)的所述第一侧与所述第一控制栅极(424)之间的第一电荷陷阱(229)。第二存储器单元(450)可具有在所述导电柱(230)的第二侧上的第二控制栅极(424)及插入在所述导电柱(230)的所述第二侧与所述第二控制栅极(424)之间的第二电荷陷阱(229)。所述第一与第二电荷陷阱(229)彼此电隔离且所述第一与第二控制栅极(424)可彼此电隔离。
搜索关键词: 具有 单个 导电 一对 存储器 单元 阵列
【主权项】:
一种存储器阵列(104),其包括:第一对电隔离激活线(4242,2、4242,3),其形成在一个或一个以上导电柱(230)的相对侧上;第二对电隔离激活线(4241,2、4241,3),其形成在所述一个或一个以上导电柱(230)的相对侧上;及多个电荷存储节点(229),其中每一电荷存储节点(229)插入在所述导电柱(230)中的相应一者与所述激活线(4242,2、4242,3、4241,2、4241,3)中的相应一者之间;其中存储器单元(4501,2)及存储器单元(4501,1)形成第一串联耦合存储器单元串的至少一部分,所述存储器单元(4501,2)形成在所述第一对激活线(4242,2、4242,3)中的第一者(4242,2)与所述导电柱(230)中的给定一者的交叉点处,所述存储器单元(4501,1)形成在所述第二对激活线(4241,2、4241,3)中的第一者(4241,2)与所述导电柱(230)中的所述给定一者的交叉点处;且其中存储器单元(4502,2)及存储器单元(4502,1)形成第二串联耦合存储器单元串的至少一部分,所述存储器单元(4502,2)形成在所述第一对激活线(4242,2、4242,3)中的第二者(4242,3)与所述导电柱(230)中的所述给定一者的交叉点处,所述存储器单元(4502,1)形成在所述第二对激活线(4241,2、4241,3)中的第二者(4241,3)与所述导电柱(230)中的所述给定一者的交叉点处。
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