[发明专利]用于将电子组件测试机校准到标准化值的补偿工具无效

专利信息
申请号: 200980109923.8 申请日: 2009-03-06
公开(公告)号: CN101978279A 公开(公告)日: 2011-02-16
发明(设计)人: 斯科特·L·蔡尔德;尼克·A·塔布斯 申请(专利权)人: 电子科学工业有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02;G01R1/04
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 刘国伟
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供一种用于将位于电子测试机的多个测试模块处的每一测试位置校准到标准化值的补偿工具和过程。每一测试模块位于从相关联中心轴线延伸的有角度间隔的径向线上,且具有用于测试电子组件的多个触点。所述补偿工具包括:具有旋转轴线的主体,其可共轴地与所述中心轴线对准以用于旋转到不同角位置;以及组件支撑部件,其可操作地与所述主体相关联以用于转位移动,以选择性地与同每一测试位置相关联的不同触点对准。所述组件支撑部件包括凹穴,其用于接纳具有终止端的电子组件,所述终止端向外延伸以允许在每一测试位置处的电接触和测试。
搜索关键词: 用于 电子 组件 测试 校准 标准化 补偿 工具
【主权项】:
一种电子测试机,其包括位于从中心轴线延伸的有角度间隔的径向线上的多个测试模块,每一测试模块具有用于测试电子组件的多个触点,所述电子测试机的特征在于:补偿工具,其用于将所述电子测试机的所述多个测试模块校准到标准化值,所述补偿工具包含:具有旋转轴线的主体,其共轴地与所述中心轴线对准以用于绕所述旋转轴线旋转到不同的角位置;以及组件支撑部件,其包括贯穿的凹穴,所述组件支撑部件可操作地与所述主体相关联以用于转位移动,以选择性地使所述凹穴与同由所述多个测试模块界定的每一测试位置相关联的不同相对触点对准,所述组件支撑部件的所述凹穴经配置以接纳具有端子的电子组件,所述端子向外延伸以允许在每一测试位置处的电接触和测试。
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