[发明专利]光学相干断层成像装置和光学相干断层成像方法有效
申请号: | 200980115967.1 | 申请日: | 2009-05-07 |
公开(公告)号: | CN102016549A | 公开(公告)日: | 2011-04-13 |
发明(设计)人: | 广濑太;山田和朗;宫田和英;武藤健二;户松宣博 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G01N21/47 | 分类号: | G01N21/47;A61B3/12;A61B5/00;G01B9/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 屠长存 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供可缩短成像时间的光学相干断层(OCT)成像装置和相应的方法。该装置包括用于将入射到光学部分上的测量光束的第一光束直径变为比第一光束直径大的第二光束直径的光束直径改变部分(21)。调整台基于第一光束直径下来自检查对象(12)的位置的返回光束的强度信息来调整会聚光学部分(20)的位置。通过光束直径改变部分(21),在通过调整台调整的位置处,光束直径从第一光束直径变为第二光束直径,以使具有第二光束直径的测量光束入射到检查对象(12)上。由于使用光束直径小的测量光束,因此可以在相对较短的时间内调整会聚光学部分(20),并且,由于使用光束直径大的测量光束,因此可以以高横向分辨率获取与参照光束的合成光束。 | ||
搜索关键词: | 光学 相干 断层 成像 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种光学相干断层成像装置,在所述光学相干断层成像装置中,来自光源的光被分成测量光束和参照光束,所述测量光束被引向检查对象,所述参照光束被引向参照反射镜,并且,由所述检查对象反射或散射的测量光束的返回光束和由所述参照反射镜反射的参照光束被用来使所述检查对象的断层图像成像,所述装置包括:光束直径调整单元,其用于调整所述测量光束的光束直径;返回光束分割单元,其用于将所述返回光束分成第一返回光束和第二返回光束;第一检测单元,其用于检测来自所述分割单元的所述第一返回光束的强度;会聚位置调整单元,其用于在由所述光束直径调整单元调整的光束直径的情况下基于由所述第一检测单元检测的第一返回光束的强度来调整所述测量光束在所述检查对象上的会聚位置;第二检测单元,其用于检测通过将来自所述分割单元的所述第二返回光束与由所述参照反射镜反射的参照光束的反射光束合成而获得的合成光束的强度;和光路长度调整单元,其用于在由所述会聚位置调整单元调整的所述测量光束的状态下基于由所述第二检测单元检测的所述合成光束的强度来调整所述参照光束的光路长度。
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