[发明专利]基于磁锁定、利用不带插座的板对电子器件的测试

摘要

提出了一种用于测试电子器件(105；105’)的方案；每个电子器件具有用于电接触该电子器件的多个端子(115；115’)。对应的测试系统(120、145；120’、145’)包括一组测试板(120；120’)；每个测试板都配备有多个导电插孔(135；135’)的排(127；127’)，每个导电插孔用于放置一个对应的电子器件(每个插孔适于接纳对应电子器件的端子)。提供锁定装置(140、145；140’、145’)以便将电子器件机械地锁定到测试板上。该锁定装置包括适于无约束地放到电子器件上、用于例如由固定到测试板下面的对应磁性盘所施加的吸引力将电子器件压向测试板的无约束装置(145；145’)，例如铁磁性盘。

主权项

一种用于测试电子器件(105；105’)的测试系统(120、145；120’、145’)，每个电子器件具有用于电接触所述电子器件的多个端子(115；115’)，其中所述测试系统包括：一组测试板(120；120’)，其中每个测试板配备有多个导电插孔(135；135’)的排(127；127’)，每个导电插孔用于放置一个对应的电子器件，每个插孔适于接纳对应电子器件的端子，及锁定装置(140、145；140’、145’)，用于将所述电子器件机械地锁定到测试板上，其特征在于锁定装置包括适于无约束地放到电子器件上的无约束装置(145；145’)，用于将所述电子器件压向测试板。