[发明专利]磁式旋转检测装置及其制造方法有效
| 申请号： | 200980132469.8 | 申请日： | 2009-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN102124304A | 公开（公告）日： | 2011-07-13 |
| 发明（设计）人： | 赤羽健彦;常田晴弘;长田圭司;矢崎俊悟 | 申请（专利权）人： | 日本电产三协株式会社 |
| 主分类号： | G01D5/12 | 分类号： | G01D5/12 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 马淑香 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种磁式旋转检测装置及其制造方法，即使不进行很费工夫的加工，也能以较高的精度对磁体与磁敏元件进行对位。具体而言，磁式旋转检测装置(10)具有：形成有由S极和N极构成的磁极对并设于旋转体(22)侧的磁体(20)；以及在旋转体(22)的旋转中心轴线L方向上与磁体(20)对向的磁敏元件(42)，此外，还包括：设于磁体(20)与磁敏元件(42)之间的分隔构件(31)；以及固定于分隔构件(31)中磁体(20)所在一侧表面的环(15)，磁敏元件(42)的中心位于环(15)的中心轴线L上，磁体(20)以与环(15)非接触的状态配置于环(15)的内侧，且磁体(20)的中心位于环(15)的旋转中心轴线L上。 | ||
| 搜索关键词： | 旋转 检测 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种磁式旋转检测装置，具有：形成有由S极和N极构成的磁极对并设于旋转体侧的磁体；以及在所述旋转体的旋转中心轴线方向上与所述磁体对向的磁敏元件，其特征在于，还包括：设于所述磁体与所述磁敏元件之间的分隔构件；以及固定于所述分隔构件中所述磁体所在一侧的表面的环，所述磁敏元件的中心位于所述环的中心轴线上，所述磁体以与所述环非接触的状态配置于所述环的内侧，且所述磁体的中心位于所述环的中心轴线上。
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