[发明专利]晶片接合装置和晶片接合方法有效

专利信息
申请号: 200980135284.2 申请日: 2009-02-19
公开(公告)号: CN102159356A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 津野武志;后藤崇之;木内雅人;井手健介;铃木毅典 申请(专利权)人: 三菱重工业株式会社
主分类号: B23K20/00 分类号: B23K20/00;B23K20/02;H01L21/02;H01L21/683
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 岳雪兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的提供一种晶片接合方法和晶片接合装置。该晶片接合方法包括:通过向上侧保持机构(7)施加电压而将第一基板保持在上侧保持机构(7)的步骤;通过接合该第一基板和保持在下侧保持机构(8)的第二基板来生成接合基板的步骤;在上侧保持机构(7)施加交变衰减电压后,从上侧保持机构(7)解除装卡该接合基板的步骤。通过在上侧保持机构(7)施加交变衰减电压,能够降低该接合基板与上侧保持机构(7)之间的残留吸附力,更为可靠且在更短时间从上侧保持机构(7)解除装卡。其结果,晶片接合装置(1)能够在更短时间接合第一基板和第二基板。
搜索关键词: 晶片 接合 装置 方法
【主权项】:
一种晶片接合方法,其特征在于,包括:通过向保持机构施加电压而将第一基板被所述保持机构保持的步骤;通过接合所述第一基板和第二基板来生成接合基板的步骤;在向所述保持机构施加交变衰减电压后,从所述保持机构解除装卡所述接合基板的步骤。
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