[发明专利]分析荧光颗粒的方法及装置有效
| 申请号： | 200980151834.X | 申请日： | 2009-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN102257379A | 公开（公告）日： | 2011-11-23 |
| 发明（设计）人： | 索伦·克加拉夫;梅特·埃琳娜·丝金德索;赫勒·弗罗博斯·索伦森;弗兰斯·拉文;马丁·格伦斯毕尔吉 | 申请（专利权）人： | 克莫麦特公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;C12N15/00;G01N33/50;G02B21/06;G02B27/09;G01N1/30;G01N33/58 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 徐金国;钟强 |
| 地址： | 丹麦阿*** | 国省代码： | 丹麦;DK |
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| 摘要： | 根据本发明的实施方式，公开了检测样品荧光的装置。该装置包括一样品板，样品排列于样品板上；一激发光单元，包括至少一个用于照射样品的光源；和一检测单元，包括至少一个检测器，其中检测器至少具有100,000个活性检测元件以检测样品的荧光信号。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 荧光 颗粒 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种检测样品荧光的装置，所述装置包括：一样品板，样品排列于样品板上；一激发光单元，包括至少一个用于照射样品的光源；和一检测单元，包括至少一个检测器，其中检测器至少具有100,000个活性检测元件以检测样品的荧光信号。
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